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UV-A 紫外輻照計一、概述UV-A型紫外輻照計采用SMT貼片技術(shù),選用高精度低功耗數(shù)字芯片,儀器外殼為流線型設(shè)計,探測器經(jīng)過嚴(yán)格的光譜及角度特性校正,性能穩(wěn)定,適用性強(qiáng)。該儀器適用于光化學(xué)、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、以及大規(guī)模集成電
UV-A 紫外輻照計
一、概述
UV-A型紫外輻照計采用SMT貼片技術(shù),選用高精度低功耗數(shù)字芯片,儀器外殼為流線型設(shè)計,探測器經(jīng)過嚴(yán)格的光譜及角度特性校正,性能穩(wěn)定,適用性強(qiáng)。該儀器適用于光化學(xué)、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。
二、特點
*光譜及角度特性經(jīng)嚴(yán)格校正
*數(shù)字液晶顯示,帶背光
*手動/自動量程切換*數(shù)字輸出接口(USB,冗余供電)*低電量提醒
*自動延時關(guān)機(jī)
*有數(shù)字保持
*輕觸按鍵操作,蜂鳴提示
三、主要技術(shù)指標(biāo)
*波長范圍及峰值波長:(以下兩種選其一)
(1)UV-420探頭:λ:(375~475)nm;λP=420nm (2)UV-365探頭:λ:(320~400)nm;λP=365nm
*輻照度測量范圍: (0.1~199.9×103) μW/cm2 *紫外帶外區(qū)雜光:UV420:小于0.02% UV365:小于0.02% *相對示值誤差:±8%(相對與NIM標(biāo)準(zhǔn))*余弦特性(方向性響應(yīng))誤差:±10%*線性誤差:±1%*換檔誤差:±1%*短期不穩(wěn)定性:±1%(開機(jī)30min后)*疲勞特性:衰減量小于2%*零值誤差:滿量程的±1%*響應(yīng)時間:1秒*使用環(huán)境: 溫度(0~40)℃,濕度<85%RH*尺寸和重量:160mm×78mm×43mm;0.2kg*電源: 常規(guī)使用6F22型9V積層電池一只 亦可使用數(shù)據(jù)線連接USB接口、5V電源適配器供電 整機(jī)功耗 <0.1VA
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